精確的表面和精確的定位
晶體的各向異性特性在研究和開發(fā)中具有廣泛的應用。普林斯頓科學公司為薄膜應用提供基材，作為目標或為個人應用量身定制，具有最高的質(zhì)量和極具競爭力的價格。

屬性
方向：
立方和四方晶體的（100）、（001）、（111）、（110）
六方晶體的（0001）、（1102）、（1120）、（1010）
米勒指數(shù)值較高或鄰近基質(zhì)的其他取向
定位精度：±0.5°，典型值<0.3°，或根據(jù)要求更高

典型尺寸：
5毫米x 5毫米、10毫米x 10毫米、10 mm x 5毫米和15毫米x 15毫米
12.7毫米x12.7毫米，20毫米x20毫米，25毫米x25毫米，?1英寸，?2英寸
橫向公差：+0/-0.05 mm
典型厚度：
0.5毫米、1.0毫米，其他厚度可根據(jù)要求降至0.1毫米
垂直公差：+/-0.05 mm，或根據(jù)要求提供更好的公差

拋光：
單面或雙面表面拋光
表面質(zhì)量：放大50倍無劃痕
微粗糙度（用干涉儀顯微鏡測量）
（橫向分辨率：0.64μm，垂直分辨率：理論0.01 nm）
粗糙度：（λ截止=0.08 mm）
Ra：小于0.5納米
Rq:<1.0納米
Rt：小于2.0納米
每批包含的粗糙度證書
根據(jù)要求對側(cè)面（圓柱體）進行光學拋光。

材料：
規(guī)格