波蘭PREVAC,科學產品,分析系統,光電子能譜系統,高級HPPES系統

先進的 HPPES 系統

用于光電子能譜實驗的研究平臺,壓力范圍為 10-10mbar 至 50 mbar,樣品溫度可控。

PREVAC UHV-HP PES 系統是一種獨特、性能卓越的分析平臺,適用于最先進的高壓光電子光譜分析。它配備了一臺 HP 分析儀,但重點是高度靈活的樣品環境,部分是新開發的、高度通用的氣體池,部分是可以用完全不同的腔室設置替換分析室的可能性。

特征

  • 定制設計,旨在以下領域的研究:
    XPS / UPS / ARPES / AES / EELS / ISS / IPES / LEIPS?技術 |UHV 條件
    –?HPXPS / APXPS / APUPS?技術 |環境壓力條件
  • 實驗程序的完全自動化
  • 回填配置
  • 創新、多功能的氣體池
  • 氣室的混合解決方案
  • 多功能性高 – 拆卸/更換?HP 細胞機械手、能量分析儀模塊或分析室模塊
  • 高壓半球能量分析儀 EA15-HP50?及設備
  • 高壓、高功率雙陽極?X 射線源,帶單色器?– AlKα & AgLα,帶電源
  • 高壓、高功率雙陽極、非單色?X 射線源?– AlKα 和 MgKα,帶電源
  • 帶電源的?UV 源
  • 帶電源的泛洪源
  • 用于深度剖析或清潔離子源
  • 電動或手動?4-6 軸機械手帶有接收站,溫度LHe/LN 系列2最高?1400°C
  • 不同的樣品架尺寸:從 10×10 mm 到 1 英寸(可根據要求提供其他尺寸)
  • 極限壓力降至 10-10mbar,具體取決于泵的配置
  • 泵送系統(基于備用泵,TMP和TSP帶有冷凍盾牌)
  • 全自動氣體加樣設置
  • 帶設備的真空
  • 樣品架的?Load Lock 室
  • 可靠、快速的線性傳輸系統,從負載鎖到分析室
  • Viewports – 觀察窗口
  • Bakeout 系統
  • 系統的可調節剛性主機架
  • 帶電子單元的 19 英寸機柜
  • 由?Spectrium 軟件?PLC 單元完全控制的分析過程和設備

描述

該站允許對氣-固和氣-液相互作用進行前沿研究。該系統配備了自動控制功能,允許許多不同的作員安全高效地作許多不同類型的樣品。它提供完整的 PLC 保護和軟件控制,包括機器狀態的清晰可視化、數據采集以及所有集成設備、電源和輔助設備的控制。

該系統的核心是基于高壓分析儀和 PREVAC 設計的氣體單元概念的分析模塊。HP 細胞縱器設計允許通過紅外激光照明(樣品池內可達到 800 °C 以上的樣品溫度)、電阻加熱(高達 700 °C)和 LN 進行樣品加熱2冷卻

分析室配有 UHV 標準的連接法蘭,用于連接當前和未來的設備,包括:

  • 帶設備的高壓半球能量分析儀
  • 帶電源的高壓 X 射線雙陽極單色源,
  • 帶電源的高壓 X 射線雙陽極非單色源,
  • 帶電源的 UV 單色光源
  • 帶電源的紫外線源
  • 帶電源的泛洪源,
  • 帶電源的電子源
  • 帶電源的離子源,用于深度剖析或清潔,
  • 帶電源的氣簇離子源,
  • 樣品調節器具有較寬的溫度范圍(從 LHe/LN2高達 1400°C)、
  • 泵組(基于備用泵、TMP、離子泵和TSP,具有大面積LN2裹尸布)、
  • 帶設備的真空計,
  • 用于線性傳輸系統的入口,例如從負載鎖到分析室,
  • 加載樣品架的 Lock 室,
  • viewports – 觀察窗口,
  • 殘余氣體分析儀。

該系統的模塊化設計允許通過徑向分布傳輸解決方案或傳輸隧道與任何其他研究平臺進行組合和集成。最終的設計和功能取決于系統配置。

泵送系統是不同類型泵的組合,例如前級真空泵、離子泵、渦輪泵或具有大面積 LN 的鈦升華泵2護罩,根據特定應用需求單獨選擇,以實現最佳泵送性能。

Spectrium 分析控制軟件允許半球形能量分析儀和各種類型的源集成和完美協作,從而實現輕松的配方編寫、自動測量控制和廣泛的數據記錄。允許基于?Tango 開源設備集成新的附加組件

選項

  • 帶機械手的?HP 壓力傳感器
  • 全自動混合室和 4 種氣體加樣設置
  • 帶電源的?UV 單色光源
  • 帶電源的電子源
  • 帶電源的氣體簇離子源
  • 儲藏
  • 徑向分布室或傳輸隧道
  • 真空手提箱(運輸箱),在負載鎖室中帶端口
  • 殘余氣體分析儀
  • 高溫計

技術

光電子能譜 (PES)?是一種實驗技術,也是電子能譜的主要變體。該方法基于光電現象和對光電子動能分布的分析。發射的能量是表面樣品受到電磁輻射激發的結果。?

PES 技術是最常用的表面測試和薄層檢查方法。它提供的信息包括:定量組成、原子鍵特性、層厚。基本過程(光效應)測量光子照射物質后產生的光電子發射。?

包括分析 PES 技術:?

  • XPS?– X 射線光電子能譜?
  • HAXPES?– 硬 X 射線光譜?
  • UPS?– 紫外光電子能譜?
  • ARPES?– 角度分辨光電子能譜?

其他技術:?

  • IPES?– 逆光電子發光光譜?
  • LEIPS?– 低能量逆光電子能譜?
  • AES?– 俄歇電子能譜?
  • EELS?– 電子能量損失譜?
  • ISS?– 離子散射光譜?

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