離子束刻蝕系統 透射電子顯微鏡樣品制備 支持無柵/有柵、射頻(RF)/直流(DC)離子源

適用于樣品表面高均勻性離子刻蝕的超高真空UHV系統。推薦用于表征技術(如透射電子顯微鏡 TEM)樣品制備。

系統特點

  • 全電動二維操控器,配備快速操作的自動快門和集成法拉第杯
  • 操控器配備高效水冷系統,確保在工藝過程中溫度穩定
  • 可適配多種盤式樣品夾具,支持最大至6英寸樣品
  • 支持無柵/有柵、射頻(RF)/直流(DC)離子源
  • 專用軟件與人機界面設備,用于控制與監控工藝流程及全部組件
  • 內部防護襯里/屏蔽裝置
  • 底部法蘭接口,可用于如電子束蒸發器等設備
  • 結構設計便于擴展以適配傳輸系統
  • 前開門設計,便于進入處理腔體

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