美國DATARAY紫外和 X 射線光束分析,光束分析相機的UV 轉換器
美國DATARAY 生產兩種類型的掃描狹縫光束分析儀：BeamMap 系列，提供實時 M2、發散、聚焦和對準管理，以及 Beam’R 系列， 緊湊且精確的光束分析，所有的狹縫掃描光束分析儀均配備 Si、Ge 和 InGaAs 探測器，覆蓋波長從 190 nm 到 2500 nm。
DATARAY紫外和 X 射線光束分析
DataRay 提供多種符合 ISO 11146 標準的解決方案，用于分析 UV 和 X 射線光束，包括 UV 敏感掃描狹縫光束分析儀和光束分析相機，以及用于相機的附加UV 轉換器。
- X 射線至 400 nm – 對于光束成像，通常首選的方法是連接到光束分析相機的UV 轉換器，可處理 100 μm 至 30 mm 左右的光束直徑。這些旋入式組件具有高損傷閾值、出色的線性度和較長的使用壽命
- ≥ 190 nm（無需成像） – 對于 4 mm 以下的小型 CW 光束，響應低至 190 nm 的掃描狹縫光束分析儀是理想選擇
- ≥ 190 nm（需要成像） – 特定光束分析相機系統可采用支持 UV 的配置，適合在低至 190 nm 的波長下運行。WinCamD-LCM-UV 的 CMOS 傳感器具有獨特的配置，可在低至 266 nm 的波長下保持穩定。我們的其他具有紫外線功能的相機在 355 nm 下穩定，但在 266 nm 及更低波長下，硅探測器可能最終會退化，導致更高的暗電流和更低的靈敏度。可通過RMA 流程更換探測
DATARAY紫外線轉換器
產品編號：BSF08-C-12N- 用于 DataRay 光束分析相機的紫外熒光再成像轉換器。紫外線光束照射到定制的薄水晶面板上，該面板會發出可見光熒光。這種晶體熒光被重新成像到相機上。相干長度 ≥1 mm 的涂層晶體選項。
Specification Detail Aperture (mm) BSF08: 6.4 x 4.8
BSF12: 9.6 x 7.2
BSF23: 19.2 x 13.8OAL x Diam. (mm): BSF08:89 x 35
BSF12: 113 x 35
BSF23: 140 x ≤ 75Configuration Axial cylinder Primary Options & Application C crystal: 193 nm
G crystal: Wide λ, low fluence
P crystal: λ <350, high fluence, fast
R crystal: Wide λ, high fluence, slowλ nm Band C crystal: 110 – 225
G crystal: 1 – 400
P crystal: 110 – 350
R crystal: 110 – 532Relative response @ 192, 248, 308 nm C crystal: 22, 0.17, 0.03
G crystal: 480, 480, 112
P crystal: 48, 15, 1
R crystal: 100, 8, 0.18Saturation mJ/cm2 @ 192, 248, 308 nm C crystal: 400, N/A, N/A
G crystal: 10, 10, 50
P crystal: 30, 30, 50
R crystal: 50, 400, 400Decay Time C crystal: 3 – 5 μs
G crystal: 0.5 μs
P crystal: 5 μs
R crystal: 3,000 μs
