讓顯微鏡檢查比以往任何時候都更容易
DVIA-T 是世界上最先進的臺式主動隔振平臺,旨在將納米級4 成像儀器與低頻振動隔離,并在1 Hz 下提供 40 – 80% 的隔振。
卓越的隔振性能
DVIA-T 開始隔離 0.5 Hz,在 1 Hz 時提供 40% – 80% 的隔振。
這很簡單,即插即用!
DVIA-T 只需要電力即可使用其主動隔振系統(tǒng)。
緊湊、輕便、便攜的設(shè)計
最小的 DVIA-T 為 420 × 500 × 93 毫米,重量僅為 25 公斤,允許用戶手提和安裝在任何地方。
自動調(diào)平到有效載荷重量
如果環(huán)境和位置發(fā)生變化或放置其他儀器,用戶只需按下自動調(diào)平按鈕即可調(diào)整 DVIA-T 的級別。
無空氣
所有 DVIA-T 都需要電流才能運行。
用戶 UI 軟件
我們?yōu)樘峁┱嬲郎p少地板振動的隔振系統(tǒng)所做的工作感到自豪。UI 軟件與 DVIA-T 一起提供,供用戶實時監(jiān)控主動隔振性能和地板振動水平。
反饋和饋送控制算法
DVIA 系列使用反饋控制算法連續(xù)檢測干擾隔離表面的振動,并立即做出反應(yīng)以實時減少振動。DVIA 系列采用前饋控制算法,在地板振動傳遞到安裝在主動隔振系統(tǒng)上的設(shè)備之前,提前過濾掉地板振動
所有六個自由度的主動隔振
DVIA 系列控制三個平移度(X、Y 和 Z)和三個旋轉(zhuǎn)度(俯仰、滾動和偏航)的振動。
應(yīng)用
原子力顯微鏡、熒光顯微鏡、掃描探針顯微鏡、3D 光學(xué)顯微鏡、納米分辨率的光學(xué)顯微鏡、數(shù)字全息顯微鏡、Stylus Profilometry、干涉、表面粗糙度計量