無噪聲的納米級成像

DVIA-M 是世界上最先進的內置主動隔振系統，集成在各種平臺中，并用作電子顯微鏡內部的內置主動隔振系統。

亞赫茲隔振性能

DVIA-M 系列嵌入了最先進的主動振動控制算法，可在六個自由度下提供 1 Hz 時 50% – 80% 的隔振效果，在 2 Hz 時提供 90% 的隔振效果。

內置主動隔振系統

DVIA-M 主動隔振器設計為納米級成像設備（如電子顯微鏡）的內置主動隔振系統

反饋和饋送控制算法

DVIA 系列使用反饋控制算法連續檢測干擾隔離表面的振動，并立即做出反應以實時減少振動。DVIA 系列采用前饋控制算法，在地板振動傳遞到安裝在主動隔振系統上的設備之前，提前過濾掉地板振動。

所有六個自由度的主動隔振

DVIA 系列控制三個平移度（X、Y 和 Z）和三個旋轉度（俯仰、滾動和偏航）的振動。

1 Hz時隔振率為 50% – 80%≥≥2 Hz 時隔振率為 90%

應用

掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡、掃描透射電子顯微鏡、掃描隧道電子顯微鏡