產品概述

Beam Imaging Solutions HRBIS 系統使高分辨率光束成像成為可能。HRBIS 可用于測量離子、電子和中性光束的二維或三維強度分布。HRBIS 還可用于對 X 射線進行成像，用于針孔成像和光譜學等應用。

使用微通道板 （MCP） 和熒光屏組合創建圖像。熒光粉均勻沉積在相干光纖 （FO） 基板上，以便圖像可以通過光學傳輸到真空系統的外部進行分析。圖像使用一系列 FO 導管相干地傳輸到真空視口，在該視口中，圖像可以通過肉眼查看或使用 CID 或 CCD 相機系統進行記錄和處理。HRBIS 系統有許多不同的配置，以最好地滿足客戶的特定應用和預算。

HRBIS-11000 型高分辨率光束成像系統如下所示。右圖顯示了 HRBIS 標配的相機轉接環。該環具有用于連接攝像機安裝系統的螺紋孔，所有可選攝像機系統均提供該孔.